Messsysteme

Für die Qualitätskontrolle von Materialien bietet die PVA TePla eine Reihe von optischen und ultraschallbasierenden Inspektionssystemen an.





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Messsysteme



SIRD
SIRD


The introduction of the 300mm wafers has required further fab refinements, bringing also new standards for the suppliers of such of bare wafers: Increasing from 200 mm to 300mm diameter, the wafer has more than doubled it's surface  ...  mehr mehr
  


TWIN
TWIN


The Implant process is a very critical step within the integrated circuits manufacturing line. It defines important characteristics and properties of the devices-to-be by doping certain layers of the silicon substrate. Rework processes  ...  mehr mehr
  



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Ultraschall-Messsysteme


PVA TePla bietet ebenso Ultraschall-Messsysteme zur zerstörungsfreien Inspektion von High Tech Materialien. Finden Sie mehr hierzu auf der Homepage unserer Tochtergesellschaft PVA TePla Analytical Systems:

http://www.samtec-germany.com/