Messsysteme

Für die Qualitätskontrolle von Materialien bietet die PVA TePla eine Reihe von optischen und ultraschallbasierenden Inspektionssystemen an.

 

Messsysteme

	SIRD The introduction of the 300mm wafers has required further fab refinements, bringing also new standards for the suppliers of such of bare wafers: Increasing from 200 mm to 300mm diameter, the wafer has more than doubled it's surface  ...  mehr

	TWIN The Implant process is a very critical step within the integrated circuits manufacturing line. It defines important characteristics and properties of the devices-to-be by doping certain layers of the silicon substrate. Rework processes  ...  mehr

Ultraschall-Messsysteme

 

PVA TePla bietet ebenso Ultraschall-Messsysteme zur zerstörungsfreien Inspektion von High Tech Materialien. Finden Sie mehr hierzu auf der Homepage unserer Tochtergesellschaft PVA TePla Analytical Systems:

     www.pva-analyticalsystems.com