Messsysteme

 

 

Ultraschall-Messsysteme
Ultraschall-Messsysteme


Die Ultraschallmikroskopie bietet die Möglichkeit, zerstörungsfreie Prüfungen an opaken (optisch nicht transparenten) Materialien vorzunehmen und das Probeninnere mit einer Auflösung eines optischen Lichtmikroskops zu inspizieren.
In nahezu jedem Bereich der modernen Wissenschaft und Technologie sind die Anforderungen für innovative und fortgeschrittene Lösungen für zerstörungsfreie Abbildung anhand von Ultraschallmikroskopen gestiegen. Neue Denkwege und visionäre Ideen stehen hinter unserem erfolgreichen Konzept der zukunftsweisenden Ultraschalltechnologie.

   


 Finden Sie mehr hierzu auf der Homepage unserer Tochtergesellschaft PVA TePla Analytical Systems:

 

  www.pva-analyticalsystems.com

 

 

Wafer Metrology
Wafermetrologie

PVA TePla AG bietet verschiedene Metrologie Systeme für die Überwachung von Fertigungsprozessen in der modernen Halbleiterindustrie: Das SIRD System zum erkennen und auswerten von Scherstress auf Wafern, Geräte zur Defekt-Erkennung auf Wafern und Ingots durch Ultraschall Mikroskopie sowie dem TWIN System zur Kontrolle des Implantprozesses. Alle unserer Systeme sind 300mm fähig und können vollständig automatisiert werden. Sie entsprechen den Klasse 1 Reinraum Anforderungen und erfüllen die SEMI standards S2 und S8.

   

 
Finden Sie mehr hierzu auf der Homepage unseres Produktbereichs Plasma Systems:

 

  www.tepla.com

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