Maßgeschneidert für Ihren Prozess.

VEgauge

  • Vollständig anpassbares Inline-Inspektionssystem für makroskopische und mikroskopische Oberflächeninspektion
  • Ortsauflösung von sub-µm bis in den Meterbereich – abgestimmt auf Ihre spezifischen Prozessanforderungen
  • Sichtfeld, Probengröße und Systemabmessungen werden durch Ihre Produktionsumgebung definiert
  • Nahezu Echtzeit-Auswertung für schnelles Prozess-Feedback
  • Zerstörungsfreie Vollflächenprüfung (100 %) von Dünnschichten, Defekten, Verunreinigungen und Oberflächenrauheit
  • Schichtanalyse von 1 nm bis 500 µm, konfiguriert für Ihren Materialstapel
  • Substratspezifische Kalibrierung: Halbleiter, Metalle, Polymere, Keramiken, Glas und mehr
  • Skalierbar für parallele Produktionslinien: mehrere Systeme gleichzeitig einsetzbar, jedes individuell konfiguriert
  • Nahtlose Integration in bestehende Produktionsabläufe
  • Zentrale Datenverwaltung und Steuerung über die VEsolve® PRO Software
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VEgauge-System für die kontinuierliche makroskopische oder mikroskopische Inline-Inspektion.
Technische Daten
MessmodusReflexion
MesszeitBasierend auf Größe und Herstellungsprozess
WellenlängenbereichVNIR: 400–1.000 nm | SWIR: 900–1.700 nm
Spektrale AuflösungVNIR: 1,34 nm | SWIR: 3,5 nm


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