Metrologie-Service

Gewinnen Sie präzise Einblicke in Ihre Materialien und Bauteile mit dem fortschrittlichen Metrologie-Service von PVA TePla. Wir bieten hochauflösende, zerstörungsfreie Charakterisierung zur Unterstützung von Forschung, Prozessoptimierung und Qualitätssicherung in der Halbleiter- und Advanced-Materials-Branche.

In enger Zusammenarbeit mit unseren Kunden entwickeln wir maßgeschneiderte Messstrategien, individuelle Prüfprotokolle und klare Auswertungsverfahren. Unser Applikationslabor verarbeitet ein breites Spektrum an Materialien, darunter Si, GaAs, GaN, SiC und InP – sowie Wafergrößen bis zu 450 mm.

Alle Messungen beinhalten professionelle grafische Auswertungen und detaillierte Prüfberichte. Mit modernsten Softwaretools und kundenspezifischen Auswertungsschemata gewährleisten wir konsistente, quantitative und vergleichbare Ergebnisse.