Scanning Acoustic Microscopy
Scanning Acoustic Microscopy
Die akustische Mikroskopie bietet den einzigartigen Vorteil, die innere Struktur eines Materials zerstörungsfrei zu untersuchen – wie etwa…
Wafer Inspection
Wafer Inspection
Wafer Inspection ist der Prozess der systematischen Prüfung von Wafern auf Spannungsfelder und Defekte, der Messung von Schichtdicken sowie der Charakterisierung…
Hightech für innovative Fertigungsprozesse
Hightech für innovative Fertigungsprozesse
Als weltweit führendes Unternehmen für innovative Hightech-Lösungen in der fortschrittlichen Fertigung setzen…
Qualität und Innovation für medizinische Exzellenz
Qualität und Innovation für medizinische Exzellenz
Der Markt der Medizintechnik entwickelt sich rasant, getrieben insbesondere durch Fortschritte…
Energieinnovationen für ein nachhaltiges Morgen
Energieinnovationen für ein nachhaltiges Morgen
Der weltweite Umstieg auf erneuerbare Energiequellen verändert die Energielandschaft und treibt die…
Die Halbleiterindustrie für eine vernetzte Zukunft stärken
Die Halbleiterindustrie für eine vernetzte Zukunft stärken
Die rasante Verbreitung digitaler Technologien wie Generativer KI,…
Die PVA TePla Gruppe hat aufgrund gestiegener handelspolitischer Unsicherheiten im dritten Quartal 2025 projektbezogene Verzögerungen verzeichnet, insbesondere in den USA und im asiatischen Markt.…
Globale Expertise und lokaler Support
Globale Expertise und lokaler Support
Um unsere Kunden bei der Lösung anwendungstechnischer Herausforderungen und der Entwicklung neuer Prozesse zu…
Infrarot-Defekt- und Spannungsanalyse
Infrarot-Defekt- und Spannungsanalyse
Infrarotbasierte Metrologie spielt eine entscheidende Rolle beim Verständnis der Waferqualität, der strukturellen…