围绕您的流程构建

VEgauge

  • 适用于宏观和微观表面检测的完全可定制在线检测系统
  • 空间分辨率从亚微米级到米级,可根据您的具体工艺要求量身定制
  • 视场、样品尺寸及系统尺寸均由您的生产配置决定
  • 近实时评估,实现快速工艺反馈
  • 对薄膜、缺陷、污染物及表面粗糙度进行无损、全表面(100%)检测
  • 1 纳米至 500 微米的层分析,根据您的材料堆叠进行配置
  • 针对特定基材的校准:半导体、金属、聚合物、陶瓷、玻璃等
  • 可扩展至多条并行生产线:同时部署多套系统,每套均可单独配置
  • 与现有生产工作流无缝集成
  • 通过 VEsolve® pro 软件实现集中化数据管理与控制
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VEgauge system for continuous macroscopic or microscopic inline inspection.
技术参数
测量模式反射率
测量时间根据样品尺寸和制造工艺
波长范围VNIR:400–1,000 nm | SWIR:900–1,700 nm
光谱分辨率VNIR:1.34 nm | SWIR:3.5 nm


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