先进材料检测

计量服务
Lab worker operates scanning acoustic microscopy process in a clean, bright laboratory while another person walks in the background.

计量服务

借助 PVA TePla 先进的计量服务,深入了解您的材料和组件。我们提供高分辨率、无损的表征服务,以支持半导体和先进材料领域的研发、工艺优化及质量保证工作。

 

我们与客户通力合作,制定定制化的测量策略、量身定制的测试方案以及清晰的评估流程。我们的应用实验室可处理包括硅(Si)、砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)、碳化硅(SiC)和磷化铟(InP)在内的多种材料,并支持最大450毫米的晶圆尺寸。

 

所有测量均包含专业的图形化评估及详细的测试报告。凭借先进的软件工具和针对客户的定制化评估方案,我们确保结果的一致性、定量性和可比性。

测量服务概述

C-Scan mode of Scanning Acoustic Microscopy. Planar mapping of an IC sample Delaminated areas are red.

扫描声学显微镜

用于检测内部缺陷和材料界面的高分辨率声学成像。

扫描声学显微镜

扫描红外去极化

晶片缺陷与应力的快速测绘。

扫描红外去极化