相关行业
半导体
PVA的技术可在10秒内完成晶圆检测，提供2纳米至300微米层厚、污染水平及表面特性的空间分辨率数据。作为一项基于光学的技术，它适用于生产晶圆。 PVA的超光谱成像技术可对半导体集成或PCB组装质量进行快速、非接触且全面的检测。该技术提供空间分辨率数据，例如焊膏残留物、油污及油脂，以及氧化状态等表面状况。
能源
PVA的“高光谱视觉”技术能够对双极板上的防腐层进行快速、非接触且全面的检测。该技术可提供覆盖整个双极板的层厚、均匀性及缺陷的空间分辨率数据。
航空航天与国防
PVA的“超光谱视觉”技术能够对航空航天和国防部件进行快速、非接触且全面的质量检测。该技术可提供空间分辨率数据，例如涡轮叶片上保护涂层的完整性及薄膜厚度、粘接区域的表面污染，以及结构合金的氧化状态和材料成分。
医疗
PVA的“超光谱视觉”技术能够对医疗器械及零部件进行快速、非接触且全面的质量检测。该技术可提供空间分辨率数据，例如植入物上生物相容性涂层的厚度与均匀性、制造过程中残留的污染物，以及手术器械表面清洁度的验证。
常见问题解答
使用 PVA 的解决方案需要满足哪些条件？
要连接 VEpioneer® 或 VEreveal 解决方案，需要以太网（标准 RJ45）接口和电源连接。所有解决方案几乎无需任何专业知识即可操作。如有需要，PVA 还可提供进一步培训和支持方面的建议。
PVA的解决方案价格如何？
我们的解决方案价格因每位客户的具体需求和要求而异。通常情况下，作为我们标准化的台式解决方案，VEpioneer® 的价格低于在线模块解决方案 VEreveal。如需获取个性化报价，请联系我们并提供您的项目详情。
PVA 的软件是如何输出结果的？
VEsolve® 以用户为中心。一方面，客户可通过 VEpioneer® 进行数据准备和模型创建；另一方面，操作员模式配合 VEreveal 解决方案，有助于有效判断所分析的零件是合格还是不合格。此外，分析结果不仅可以保存为完整的超立方体，还可以从中提取图表、表格和图像。
VEpioneer® / VEreveal 测量样本的（空间）分辨率是多少？
通常情况下，我们的台式 VEpioneer® 解决方案设计空间分辨率为 300 µm。不过，这也是我们为提供最优适配方案而提供的定制化服务之一。
我能根据我的具体需求获得一个 VEpioneer® 样品平台吗？
样品台每次都会根据客户的需求进行调整。您可以在各解决方案的网页上下载包含详细技术规格的产品数据表。
VEpioneer® / VEreveal 从样本中采集数据的速度有多快？
只需几秒钟，例如，VEpioneer® 能在 20 秒内完成对 300 x 300 毫米样品的扫描。不过，VEreveal 解决方案的采集速度会根据制造工艺和样品尺寸进行调整。借助预定义的机器学习模型，检测结果会立即显示在我们的 VEsolve® Pro 软件中。
对高光谱视觉检测感兴趣吗？