功能

多轴 XYZ

  • 多轴运动:X、Y、Z
  • 提供 5 种不同配置
  • 配备 1–200 MHz 脉冲发射接收器的自定义扫描场
  • 8位1 GHz或12位250 MHz测量系统
  • 亚克力或钢制检测槽;安全光幕
  • 扫描模式:脉冲回波、透射、A扫描、B扫描、C扫描、TOF、厚度
  • 时域和频域测量,包括峰值振幅及至界面的时间差

     

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PVA TePla industrial semiconductor equipment featuring a dual-arm robotic system for precision processing in a cleanroom vacuum technology environment.
PVA TePla NDT CF-300 metrology equipment featuring a blue housing, internal testing chamber, and mechanical components for semiconductor inspection.
A PVA TePla industrial metrology system featuring a large water tank, gantry assembly, and control electronics for precision semiconductor equipment.
PVA TePla metrology equipment featuring a scanning system over a water tank for semiconductor inspection, utilizing precision vacuum technology.
A PVA TePla industrial system for semiconductor equipment, featuring a long blue frame, clear tank, and overhead mechanical gantry for metrology.
技术参数
电压120/240 VAC,单相,20 安培
水2型去离子水
动态范围8 位 1 GHz | 22 位 250 MHz
操作系统Windows 11 专业版
电压120/240 VAC,单相,20 安培
水2型去离子水
动态范围8 位 1 GHz | 22 位 250 MHz
操作系统Windows 11 专业版
电压120/240 VAC,单相,20 安培
水2型去离子水
动态范围8 位 1 GHz | 22 位 250 MHz
操作系统Windows 11 专业版
空气5 PSI
电压120/240 VAC,单相,20 安培
水2型去离子水
动态范围8 位 1 GHz | 22 位 250 MHz
操作系统Windows 11 专业版
空气5 PSI
电压120/240 VAC,单相,20 安培
水2型去离子水
动态范围8 位 1 GHz | 22 位 250 MHz
操作系统Windows 11 专业版
空气5 PSI

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