功能说明

SIRD

  • 机器人将晶圆从托盘转移至测量台。托盘可由操作员放置,也可通过悬挂式运输系统(OHT)自动放置。
  • 该设备会根据材料掺杂等级自动调整至最佳测量参数。
  • 数据将根据预定义的测量协议进行记录,该协议详细规定了感兴趣区域、分辨率和测量模式。
  • 测量完成后,晶圆将返回至托盘,并开始对测量图进行自动分析。
  • 系统将生成数值数据(例如按类型或强度统计的缺陷数量)和可自定义的报告,并可根据需要通过标准 SECS/GEM 协议将数据发送至主机。
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SIRD
技术参数
原理 应力诱导的光学双折射
应力敏感性≥ 0.1 kPa 面内剪切应力
横向分辨率≥ 100 μm
扫描速度最高 1 平方厘米/秒
晶圆直径150 毫米、200 毫米、300 毫米


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