产品系列

晶圆表面测量系统

  • 集成ICP-MS分析的自动化气相分解(VPD)
  • 晶圆表面金属污染物的超痕量检测
  • 全自动化学品供应、液体处理、晶圆处理及清洗循环
  • 适用于4英寸至12英寸晶圆上的疏水和亲水表面、倒角及上倒角

WSMS产品系列包括两个系统:WSMS Integra和WSMS Integra HT。

功能一览

WSMS Integra

  • 配备集成ICP-MS分析功能的全自动VPD
  • 采用HF或HF/臭氧刻蚀,并具备液滴扫描功能
  • 对晶圆表面、倒角和上倒角进行分析,包括亲水表面
  • 自动晶圆加热、称重及机器人搬运,并支持翻转选项
  • 兼容Fab Supply系统,支持主动样品传输(AST),并具备SECS/GEM就绪自动化功能

功能一览

WSMS Integra HT

  • 高通量晶圆表面测量,每小时最多可处理8片晶圆
  • 配备独立洁净晶圆和污染晶圆产线的双并行处理模块
  • 从晶圆厂大容量储液瓶自动供应化学试剂,并通过AST接口将多个源连接至一台ICP-MS
  • 配备专用加液系统、压力监测及泄漏传感器,以最大限度降低交叉污染风险
  • 通过SECS/GEM和OHT实现与晶圆厂的全面集成;通过SEMI S2/S8认证,并符合ISO 6级洁净室标准
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晶圆表面测量系统
技术参数
测量技术ICP-MPS
晶圆尺寸4英寸、6英寸、8英寸和12英寸
表面疏水、亲水、倒角和上倒角
洁净室等级ISO 6级或更高
系统尺寸2,159 × 2,238 × 2,080毫米

 

测量技术ICP-MPS
晶圆尺寸4英寸、6英寸、8英寸和12英寸
产能每小时最多8片晶圆
洁净室等级ISO 6级或更高
系统尺寸2,459 × 2,238 × 2,080毫米

 

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