从您的台式设备获取全面洞察

VEpioneer series

  • 完全集成的一键式台式高光谱视觉系统,开箱即用
  • 单次运行即可实现无损、全表面(100%)检测
  • 测量速度快,10 秒内即可完成
  • 层厚检测范围为 1 纳米至 500 微米(取决于层材料)
  • 可对缺陷、污染物及表面特性进行空间分辨识别
  • 兼容多种基材:半导体、金属、聚合物、陶瓷、玻璃等
  • 通过 VEsolve® pro 软件实现集中控制与评估

VEpioneer Macro

  • 专为宏观检测设计的紧凑型台式系统
  • 支持最大 360 × 360 毫米的样品尺寸
  • 空间分辨率为100–300 µm,并提供高分辨率扫描模式
  • 专用的样品台及多样的定制选项

VEpioneer micro

  • 专为显微检测优化的台式系统
  • 根据显微镜物镜的不同,可实现亚微米级空间分辨率
  • 可处理最大130 × 130毫米的样品
  • 操作灵活:可通过操纵杆手动控制,或通过软件实现全自动操作

VEpioneer Core

  • 全球最小型的全集成高光谱视觉台式系统
  • 超紧凑机身,尺寸仅为 230 × 200 毫米,重量仅 12 公斤
  • 专为最大100 × 100毫米的样品尺寸设计
  • 提供100微米的空间分辨率,是进入高光谱检测领域的理想入门选择 

VEpioneer Semi

  • 洁净室兼容版本(ISO 3级),配备集成层流FFU
  • 专为宏观晶圆检测设计,支持200毫米和300毫米晶圆
  • 配备三点式晶圆夹具,确保安全、无污染的操作
  • 空间分辨率从 300 µm 起,并提供高分辨率扫描模式
下一页
Sensor head inspecting a semiconductor wafer with colorful chip structures.
PVA TePla VEpioneer benchtop acoustic microscopy system.
技术参数
测量模式反射率
测量时间< 10 秒(典型值)
波长范围VNIR:400–1,000 nm | SWIR 1:900–1,700 nm
光谱分辨率VNIR:1.34 nm | SWIR:3.5 nm
产品宣传单

VEpioneer 感兴趣吗?

联系我们