Vue Serie

• Puls-Echo
• Durchschallung (außer Mini Vue)
• A-Scan-Wellenformen
• B-Scan-Querschnittsbilder
• C-Scan-Planare Bilder
• TOF – Time-of-Flight-Bilder
• THK – Wanddickenbilder

Vue Serie - Messgrößen

• Zeitbereich
• Frequenzbereich
• Maximale Spitzenamplitude
• Positive und negative Spitzenamplitude
• Time of Flight zu Peaks und Flanken
• Anwenderseitige Signalverarbeitung

ODIS

ODIS (OKOS Digital Imaging System) ist die neueste Generation der Akustischen Mikroskopie Software, entwickelt auf modernen Plattformen und geprägt durch umfangreiches Branchen-Feedback. Es bietet leistungsstarke, datengestützte Analysen durch ein umfassendes Set quantitativer Werkzeuge für präzise Messung, Charakterisierung und Klassifizierung von Bauteilen. Für fortschrittliche Inspektionsumgebungen konzipiert, ermöglicht ODIS eine schnelle und zuverlässige Bewertung eines breiten Spektrums an Materialien und Anwendungen.

Inspektion & Analyse

Multi-Zone-Inspektion (SALI) | C-Scans, B-Scans, A-Scan | Spitzenamplitude & Time of Flight | Defektdetektion | Wanddickenmessung | Clusteranalyse | Histogramm | Hohlraumanalyse | Quantifizierung | Go/No-Go-Klassifizierung

Benutzeroberfläche 
Modi: Erweitert | Ingenieur | Bediener