功能

多軸 XYZ

多軸運動：X、Y、Z
提供 5 種不同配置
可自訂掃描範圍，配備 1–200 MHz 脈衝發射接收器
8位元 1 GHz 或 12位元 250 MHz 儀器配置
壓克力或鋼製檢測槽；安全光幕
掃描模式：脈衝回波、穿透傳輸、A掃描、B掃描、C掃描、TOF、厚度
時域與頻域測量，包含峰值振幅及至介面的飛行時間 (TOF)

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PVA TePla industrial semiconductor equipment featuring a dual-arm robotic system for precision processing in a cleanroom vacuum technology environment.

PVA TePla NDT CF-300 metrology equipment featuring a blue housing, internal testing chamber, and mechanical components for semiconductor inspection.

A PVA TePla industrial metrology system featuring a large water tank, gantry assembly, and control electronics for precision semiconductor equipment.

PVA TePla metrology equipment featuring a scanning system over a water tank for semiconductor inspection, utilizing precision vacuum technology.

A PVA TePla industrial system for semiconductor equipment, featuring a long blue frame, clear tank, and overhead mechanical gantry for metrology.

技術資料

電壓	120/240 VAC，單相，20 安培
水源	第 2 類去離子水
動態範圍	8 位元 1 GHz \| 22 位元 250 MHz
作業系統	Windows 11 Pro

電壓	120/240 VAC，單相，20 安培
水源	第 2 類去離子水
動態範圍	8 位元 1 GHz \| 22 位元 250 MHz
作業系統	Windows 11 Pro

電壓	120/240 VAC，單相，20 安培
水源	第 2 類去離子水
動態範圍	8 位元 1 GHz \| 22 位元 250 MHz
作業系統	Windows 11 專業版
氣壓	5 PSI

電壓	120/240 VAC，單相，20 安培
水源	第 2 類去離子水
動態範圍	8 位元 1 GHz \| 22 位元 250 MHz
作業系統	Windows 11 Pro
氣壓	5 PSI

電壓	120/240 VAC，單相，20 安培
水源	第 2 類去離子水
動態範圍	8 位元 1 GHz \| 22 位元 250 MHz
作業系統	Windows 11 Pro
氣壓	5 PSI

應用

該系統支援對曲面或不規則幾何形狀進行輪廓跟蹤檢測、坯料與棒材評估、基於轉盤的 360° 掃描，以及工業組件的多角度或多軸聲學分析。

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