相關產業
半導體
PVA 的技術可在 10 秒內完成晶圓檢測，提供關於 2 奈米至 300 微米層厚、污染程度及表面特性的空間解析度數據。作為一項基於光學的技術，它適用於生產晶圓。 PVA 的超光譜視覺技術可對半導體整合或 PCB 組裝品質進行快速、非接觸且全面的檢測。該技術提供空間解析度數據，例如焊膏殘留物、油污及油脂，以及氧化狀態等表面狀況。
能源
PVA 的「超光譜視覺」技術能對雙極板上的防蝕層進行快速、非接觸且全面的檢測。該技術可提供涵蓋整個雙極板的層厚、均勻度及缺陷等空間解析數據。
航太與國防
PVA 的「超光譜視覺」技術可對航太與國防零組件進行快速、非接觸且全面性的品質檢測。該技術能提供空間解析度數據，例如渦輪葉片的保護塗層完整性與薄膜厚度、接合區域的表面污染，以及結構合金的氧化狀態與材料成分。
醫療
PVA 的「超光譜視覺」技術能對醫療器材及零組件進行快速、非接觸且全面性的品質檢測。該技術可提供空間解析度數據，例如植入物上生物相容性塗層的厚度與均勻度、製造過程中殘留的污染物，以及手術器械表面潔淨度的驗證。
常見問題
使用 PVA 的解決方案需要哪些條件？
要連接 VEpioneer® 或 VEreveal 解決方案，需具備乙太網路（標準 RJ45）及電源連接。所有解決方案幾乎任何人都能操作，無需具備相關知識。如有需要，PVA 亦提供進階培訓與技術支援的諮詢服務。
PVA 的解決方案價格有多高？
我們的解決方案價格會根據每位客戶的具體需求和要求而有所不同。一般而言，作為我們標準化的桌面型解決方案，VEpioneer® 的價格比在線模組解決方案 VEreveal 更為實惠。如需獲取客製化報價，請提供您的專案詳情與我們聯繫。
PVA 的軟體是如何輸出結果的？
VEsolve® 是以使用者為中心的解決方案。一方面，客戶可透過 VEpioneer® 進行所有資料準備與模型建立作業；另一方面，操作模式結合 VEreveal 解決方案，有助於有效判斷所分析的零件是合格還是不合格。此外，分析結果不僅可儲存為完整的超立方體，亦可從中擷取圖表、表格及影像。
VEpioneer® / VEreveal 是以何種（空間）解析度來測量樣本的？
通常，我們的 VEpioneer® 桌上型解決方案是針對 300 µm 的空間解析度所設計。不過，這正是我們為提供最佳化解決方案所提供的客製化服務之一。
我能否根據我的特定需求，取得 VEpioneer® 的樣品平台？
樣品平台會根據客戶需求進行調整。您可在各解決方案的網頁上下載附有詳細技術規格的產品資料表。
VEpioneer® / VEreveal 從樣本中擷取資料的速度有多快？
只需數秒，例如 VEpioneer® 便能在 20 秒內掃描一個 300 x 300 公釐的樣本。然而，VEreveal 解決方案的掃描速度會根據製造流程和樣本尺寸進行調整。透過預先定義的機器學習模型，檢測結果會立即顯示在我們的 VEsolve® Pro 軟體中。
對高光譜視覺檢測感興趣嗎？