技術資料
| 測量模式 | 反射率 |
| 測量時間 | 視樣品尺寸及製造製程而定 |
| 波長範圍 | VNIR:400–1,000 nm | SWIR:900–1,700 nm |
| 光譜解析度 | VNIR:1.34 nm | SWIR:3.5 nm |
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| 測量模式 | 反射率 |
| 測量時間 | 視樣品尺寸及製造製程而定 |
| 波長範圍 | VNIR:400–1,000 nm | SWIR:900–1,700 nm |
| 光譜解析度 | VNIR:1.34 nm | SWIR:3.5 nm |
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