以您的流程為核心

VEgauge

  • 適用於宏觀與微觀表面檢測的完全可客製化在線檢測系統
  • 空間解析度範圍從亞微米級至米級,可根據您的特定製程需求量身打造
  • 視野範圍、樣品尺寸及系統尺寸皆可依據您的生產配置進行定義
  • 近即時評估,提供快速製程回饋
  • 對薄膜、缺陷、污染物及表面粗糙度進行無損、全表面(100%)檢測
  • 層厚分析範圍從 1 奈米至 500 微米,可針對您的材料堆疊進行配置
  • 針對特定基板進行校準:半導體、金屬、聚合物、陶瓷、玻璃等
  • 可擴展至平行生產線:同時部署多套系統,每套皆可獨立配置
  • 無縫整合至現有生產工作流程
  • 透過 VEsolve® pro 軟體實現集中式資料管理與控制
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VEgauge system for continuous macroscopic or microscopic inline inspection.
技術資料
測量模式反射率
測量時間視樣品尺寸及製造製程而定
波長範圍VNIR:400–1,000 nm | SWIR:900–1,700 nm
光譜解析度VNIR:1.34 nm | SWIR:3.5 nm


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